現(xiàn)在被廣泛使用的
納米粒度儀是基于動態(tài)光散射原理的所以也稱為“動態(tài)光散射納米粒度分析儀”或者叫“動態(tài)光散射激光粒度儀”。
納米粒度儀檢測是采用的動態(tài)光散射的原理,簡單來說是通過測量納米顆粒的布朗運動導(dǎo)致的顆粒散射光的波動來實現(xiàn)粒徑的檢測。基本原理是:小顆粒的布朗運動速度快使得散射光波動快;大顆粒的布朗運動速度慢導(dǎo)致散射光波動慢。
光電探測器接收到散射光的波動信號,然后將信號輸送到儀器內(nèi)的相關(guān)器進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,然后得到各項測試結(jié)果。
納米粒度儀的兩大核心技術(shù)是:1、準(zhǔn)確檢測并記錄極其微弱且快速變化的動態(tài)散射光信號。
2、根據(jù)動態(tài)散射光信號,經(jīng)過復(fù)雜的數(shù)學(xué)模型分析計算后準(zhǔn)確的解析出相關(guān)的粒度數(shù)據(jù)。
目前納米粒度儀主流使用的探測器有兩種:一是PMT光電倍增管,二是雪崩光電探測器APD。PMT光電倍增管它是一種真空光電器件(真空管)。它的工作原理是建立在光電效應(yīng)(光電發(fā)射)、二次電子發(fā)射、電子光學(xué)理論基礎(chǔ)上的。PMT光電倍增管已經(jīng)面世多年,其生產(chǎn)工藝及應(yīng)用技術(shù)已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定,但是已經(jīng)很難再有更上一層樓的技術(shù)進(jìn)步。它主要的優(yōu)點就是技術(shù)成熟,不足之處在于靈敏度稍低和背景電噪聲不穩(wěn)定。
雪崩光電探測器APD是利用載流子的雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號以提高檢測的靈敏度。雪崩光電二極管(APD)具備單光子探測能力,與已經(jīng)廣泛使用的光電倍增管(PMT)相比,APD具有全固態(tài)結(jié)構(gòu),量子效率高的特點,并可以在高增益下保持良好的信噪比。由于APD是工作在蓋革模式下,單個門控周期得到的是0和1組成的數(shù)字矩陣,對微弱光子信號的長時間積分不會引入熱噪聲,加之其信號的傳輸不需要經(jīng)過模數(shù)和數(shù)模轉(zhuǎn)換減少了隨機噪聲等誤差源。
當(dāng)納米粒度儀與電鏡結(jié)果做比較時,有必要認(rèn)識到兩種儀器的等效原理不同,數(shù)據(jù)不具備*的可比性。一般而言NumberPSD的值與電鏡結(jié)果的可比性比較強,但我們也需要注意到NumberPSD分布本身就可能有較大的誤差。尤其對于分布比較寬的樣品,用動態(tài)光散射測量時IntensityPSD本身就有變化,這會造成VolumePSD,NumberPSD的重復(fù)性很差。
納米粒度儀用動態(tài)光散射的原理測量納米材料的粒徑,具有準(zhǔn)確、簡便、快速等優(yōu)點,同時提供了豐富的結(jié)果信息。充分了解這些結(jié)果的含義對于正確使用有重要的意義。一般而言,對于單峰的樣品,通常用Z-average來報道樣品結(jié)果;而多峰分布的樣品,則要注意根據(jù)“質(zhì)量報告”提示,有時提供IntensityPSD中的峰值大小更有意義。VolumePSD,NumberPSD的準(zhǔn)確性依賴于用戶輸入的光學(xué)參數(shù),在多數(shù)情況下僅供參考。另外,為保障數(shù)據(jù)可靠性,我們通常還要求對一個樣品進(jìn)行多次取樣、多次測試,以確保結(jié)果的可靠性。