X射線熒光光譜法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過(guò)程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。熒光x射線分析實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。由樣品制備和樣品自身引起的誤差有以下幾種：（1）樣品的均勻性。（2）樣品的表面效應(yīng)。（...

X射線熒光（XRF）分析技術(shù)是測(cè)定由初級(jí)X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實(shí)現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時(shí)測(cè)定，檢出限在mg/kg量級(jí)范圍內(nèi)，制樣方法簡(jiǎn)單，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，可以直接應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)、原位分析，在材料分析領(lǐng)域占有重要地位。一、xrf分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域：1、環(huán)境保護(hù)：土壤中重金屬分析；涂料、油漆、顏料及塑料中有害...

納米粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀，其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測(cè)試的產(chǎn)品。儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。具有原理、精度*的特點(diǎn)，從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性。納米粒度儀優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)介紹：1、高靈敏度與信噪比：本儀器的探測(cè)器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管（PMT），對(duì)光子信號(hào)...

高分辯衍射儀是可編程序控制器技術(shù)及模塊化設(shè)計(jì)理念融入設(shè)計(jì)中，它的無(wú)干擾隔離保護(hù)方案使該儀器性能更加*，故障率極低，并延長(zhǎng)整機(jī)使用壽命。它的設(shè)計(jì)精密，硬件、軟件、功能齊全，能靈活地適應(yīng)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)各種測(cè)試、分析和研究工作。高分辯衍射儀主要是用來(lái)分析x射線的儀器，給我們具體的的實(shí)驗(yàn)和分析數(shù)據(jù)，幫助我們了解物質(zhì)的特性和射線的走向。我們用它主要是分析物質(zhì)成分和元素特性。具體的功用有一些幾種：1.物相定量分析：定量分析的任務(wù)是確定物質(zhì)樣品，以及樣品中各組成相的相對(duì)含量。這樣有利于確定物...

激光粒度儀利用了激光具有的單色性和*的方向性等特性，通過(guò)顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來(lái)分析顆粒大小。對(duì)于激光粒度儀的評(píng)價(jià)主要包括四個(gè)方面：重復(fù)性、分辨力、準(zhǔn)確度、穩(wěn)定性。1.重復(fù)性粒度分布過(guò)程中，在短時(shí)間內(nèi)，由同一位操作者、在相同條件下、使用同一臺(tái)儀器、對(duì)同一分散樣本進(jìn)行特性量值的多次測(cè)定，其測(cè)定結(jié)果的一致性程度，此類重復(fù)性不包含由于取樣和分散造成的變化。2.分辨力粒度分析儀是否能清晰地分辨出由兩個(gè)或兩個(gè)以上單一粒徑混合成的樣品出現(xiàn)雙峰或多峰曲線的能力。3.準(zhǔn)確度準(zhǔn)...