激光粒度分布儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產(chǎn)品，工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時，會產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會產(chǎn)生不同的散射光分布，通過檢測這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說，激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號，來確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉(zhuǎn)換...

納米粒度電位儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態(tài)光散射（DLS）等技術(shù)，該儀器能夠準(zhǔn)確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布，同時測定顆粒表面的Zeta電位，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動態(tài)光散射原理，通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當(dāng)激光束照射到顆粒樣品上時，顆粒會散射光，散射光的強度與顆粒的大小和數(shù)量有關(guān)。通過分析散射光的波動情況，可以得到顆粒的粒徑分布信息...

x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出次級X射線，即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時，會將原子內(nèi)層的電子擊出，導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時，會釋放出特征X射線，這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關(guān)。通過檢測這些特征X射線，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。x射線熒光光譜儀的具體特性：1、非破壞性：在分析過程中不會對樣品造成破壞，這對于珍貴或不復(fù)制的樣品尤為重要。2...

激光噴霧粒度儀是一種高精度儀器，專門用于測量微米級顆粒的粒度分布?；诩す馍⑸湓砉ぷ?。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時，顆粒會對激光產(chǎn)生散射。散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強度，可以得到顆粒的粒度分布信息。激光噴霧粒度儀通常由激光器、探測器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出激光，經(jīng)過聚焦后照射到正在噴霧的顆粒上。產(chǎn)生的散射光被探測器接收，并轉(zhuǎn)換為電信號。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則對電信號進行處理和分析，最終得出顆粒的粒度分布、平均粒徑...

本文摘要利用XRF方法分析Li-NCM正極材料，已被證實具有非常好的精度和準(zhǔn)確度，可以高通量測試并獲得與ICP相媲美的高質(zhì)量的分析結(jié)果。那么利用占地更小、更經(jīng)濟、更易操作的能量色散型X射線熒光光譜儀是否可以呢？本文將介紹馬爾文帕納科高性能EDXRF--Epsilon4在同類型正極材料元素分析中的實驗結(jié)果。在上一篇題為“XRF分析鎳鈷錳正極材料及其前驅(qū)體的元素成分”的推文中，我們介紹了利用NCM標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)套裝結(jié)合馬爾文帕納科高精度熔融設(shè)備和波長色散X射線熒光光譜儀Zetium...